FÜR EINE SCHNELLE UND PRÄZISE INSPEKTION

Die hohe Messfrequenz und Auflösung im Mikrometerbereich eröffnet neue Möglichkeiten. Durch die Aktivierung der Mehrfachbelichtung können kontrastreiche Objekte mit einer höheren Geschwindigkeit gemessen werden. Die X-Auflösung von bis zu 8 μm, macht das Messen von kleinen Merkmalen wie Kanten oder Lücken simpel.

GROSSE MESSBREITE UND MESSBEREICH

Erzielen Sie mehr Leistung mit weniger Sensoren, während Sie mit der großen Messbreite immer noch feine Oberflächen- und Kantendetails erfassen. Durch den großen Messbereich können die Sensoren eine höhere Objekt-Vielfalt in Produktionsgeschwindigkeit meistern.